据外媒报道，日本光侦测器制造商Hamamatsu Photonics（滨松光子）开发了一个高速检测系统，可在晶圆上快速检测Micro LED芯片的质量。
据悉，该检测系统名为MiNY PL，采用光致发光测试技术（PL）来检测LED芯片外表、发光强度和波长的异常问题，所用光致发光测试技术是基于滨松光子的图像处理技术和新开发的成像模组。
