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克服MicroLED的“效率陡崖”
新一代显示技术追求更高的亮度、更长的寿命、更高的分辨率和更好的显色性，将能够支撑虚拟/增强现实和元宇宙的发展。Micro-LED被认为是满足这些需求最有效的路线。除显示应用外，可见光通信、生物成像与检测亦是Micro-LED的潜在应用领域。由于制备过程中刻蚀造成的表面损伤，Micro-LED的效率随着LED尺寸的减小大幅下降，导致严重的“效率陡崖”。外延层里存在的结构缺陷和杂质也导致低内量子效率和低效的空穴输运与注入。而且，传统镓极性高铟组分InGaN量子阱LED遭受高密度的缺陷、无序、位错以及
